当X射线照射到样品表面时，样品表面原子或分子中的电子获得足够能量而逃逸出来，形成光

电子。这些光电子的能量与其从原子或分子中逃逸的束缚能级有关，因此可以通过测量光电子的能量，从而推断出样品表面的元素组成和化学状态。

广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定及富集法微量元素分析等领域，用于粉末材

料、高分子材料、物理薄膜以及锂电池材料、新型光电材料、功能材料、陶瓷、玻璃、高分子聚合物、金属、半导体、催化剂等的表征。