特定波长的 X射线照射到晶体后，与晶体中原 子的散射相互干涉，根据晶体结构的不同，在不 同入射角度产生具有特定强度关系的衍射线，根 据衍射线相对强度与角度的关系从而推断晶体粉 末的晶体结构特征。

1、样品组成成分分析；

2、固体样品残余应力测试及织构分析。