简介：
仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。
用途：
测试半导体材料的电阻率和方块电阻。
四探针仪
发布时间：2022-06-20
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