简介:
辉光放电源在低压惰性气体氛用中施加电场,形成等离子体。样品表面被正离子撞击发生溅射,溅射出的原子进入等离子体中离子化,导入质量分析器,根据质荷比将不同离子分开,并将具有特定质荷比的离子传输到检测器,应用相对灵敏度因子计算出各元素的质量分数。
用途:
1、高纯金属、半导体等导电材料的痕量杂质分析;
2、沉积物、氧化物等非金属材料的杂质分析;
3、由镀层、电沉积、渗透等工艺制备的层状样品的深度分析。
辉光放电源在低压惰性气体氛用中施加电场,形成等离子体。样品表面被正离子撞击发生溅射,溅射出的原子进入等离子体中离子化,导入质量分析器,根据质荷比将不同离子分开,并将具有特定质荷比的离子传输到检测器,应用相对灵敏度因子计算出各元素的质量分数。
1、高纯金属、半导体等导电材料的痕量杂质分析;
2、沉积物、氧化物等非金属材料的杂质分析;
3、由镀层、电沉积、渗透等工艺制备的层状样品的深度分析。