X射线荧光光谱仪（XRF）通过产生入射X射线来激发被测样品。 受激发的样品中的元素会放射出二次X射线，并且不同元素所放射出的二次X射线具有特定的能量和波长。探测系统测量二次X射线的能量及数量或者波长，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

金属材料分析、矿石勘探、环境监测等样品的：

1、元素定性分析；

2、元素含量半定量分析；

3、元素含量定量分析。